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MC022系列薄膜測厚儀(CH-1-S)

MC022系列薄膜測厚儀

MC022系列(CH-1-S)

一、CH-1-S型薄膜測厚儀概述:

   CH-1-S型薄膜測厚儀適用于機(jī)械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片)。本測厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。

二、CH-1-S型薄膜測厚儀主要參數(shù):

1. 量程:0-1mm 分度值:0.001mm

2. 上測頭曲率半徑:15-50mm

3. 測頭對(duì)試樣施加負(fù)荷我:0.1-0.5N

4. 測量精度:100vm以內(nèi)<1vm

             100-250vm2vm

             250vm3vm