MC016系列顯微熔點儀
MC016系列（SGW X-4B）
一、SGW X-4B顯微熔點儀應(yīng)用范圍：
SGW X-4B顯微熔點儀應(yīng)用范圍：測定物質(zhì)的熔點。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。
二、SGW X-4B顯微熔點儀技術(shù)參數(shù)：
1、熔點測量范圍：室溫至320℃
2、最小讀數(shù)：0.1℃
3、測量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時）
±2℃（在200～300℃時）
4、配雙目體視顯微鏡
5、光學(xué)放大倍數(shù)：40X-100X連續(xù)可調(diào)
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