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MC016系列粒度儀(WQL)

MC016系列粒度儀

MC016系列(WQL

一、WQL粒度儀應(yīng)用范圍:

    WQL粒度儀儀器基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測(cè)定顆粒的粒度大小及分布,采用變速測(cè)定方式,使1次測(cè)量的粒度范圍比大于20:1

二、WQL粒度儀技術(shù)參數(shù):

1、轉(zhuǎn)速范圍:60010000r/min

2、光信號(hào)穩(wěn)定性:0.2%/30min

3、可測(cè)粒度范圍:0.0160μm

4、測(cè)試準(zhǔn)確度:5% (使用原上海測(cè)試技術(shù)研究院所提供的二氧化硅標(biāo)樣)